Tektronix presenta soluzioni innovative di test a Embedded World 2020

Tektronix ha annunciato che l’azienda presenterà una vasta gamma di prodotti di test e misura presso Embedded World 2020 (Stand 104, Hall 4), che si svolge dal 25 al 27 febbraio a Norimberga, in Germania. I prodotti Tektronix in mostra affronteranno una vasta gamma di applicazioni.

I visitatori dello stand Tektronix saranno in grado di effettuare prove pratiche per imparare come i prodotti Tektronix possano risolvere i loro problemi di test e le sfide di misurazione. Dagli ingegneri, per gli ingegneri.

Lo stand Tektronix presenterà dimostrazioni che coprono una vasta gamma di aree di applicazione, tra cui:

  • Design embedded
  • Elettronica di potenza
  • Soluzioni automobilistiche
  • Istruzione e ricerca avanzata

I punti salienti dello stand Tektronix quest’anno includeranno:

  • Oscilloscopi serie 3 e 4: due nuovi oscilloscopi, il 3 serie MDO e il 4 serie MSO, progettati per una vasta gamma di applicazioni esigenti a un prezzo accessibile, i nuovi oscilloscopi di fascia media Tektronix sono stati reinventati con la pluripremiata esperienza utente e il design industriale introdotto per la prima volta negli MSO serie 5 e 6. Il MDO Serie 3 e il MSO Serie 4 completano il portafoglio di oscilloscopi Tektronix.
  • Con un ASIC progettato internamente a basso rumore, l’oscilloscopio a segnale misto MSO serie 6 di Tektronix porta la soglia di prestazione degli oscilloscopi di fascia media a 8 GHz e fornisce una frequenza di campionamento di 25 GS / s contemporaneamente su tutti e 4 i canali, consentendo agli ingegneri di lavorare su sistemi embedded più veloci e complessi per visualizzare con precisione fino a quattro segnali ad alta velocità contemporaneamente. Con l’usabilità e la possibilità di aggiornamento all’avanguardia, insieme a capacità di misurazione avanzate e nuove tecnologie di sondaggio, MSO Serie 6 offre davvero la massima sicurezza nelle misurazioni.
  • Un nuovo plug-in software per l’AFG31000 Arbitrary / Function Generator che consente di eseguire test cruciali a doppio impulso in meno di un minuto, risparmiando un notevole periodo di tempo rispetto a metodi alternativi. Con il nuovo software Double Pulse Test, gli ingegneri possono definire rapidamente i parametri degli impulsi da una singola finestra sull’ampio display touchscreen dell’AFG31000 e quindi generare gli impulsi necessari per eseguire i test, il tutto in meno di un minuto. L’applicazione offre la regolazione dell’impedenza della larghezza degli impulsi e l’intervallo di tempo tra ciascun impulso, fino a 30 impulsi. Le larghezze d’impulso possono variare da 20 ns a 150 µs.

Arsenio Spadoni

Journalist, ElettronicaIn Publisher & Founder, Futura Elettronica Founder,

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